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ArticlesGBPI高压加速老化箱(饱和)加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
GBPI高压加速老化箱(饱和)设备概述
加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
随着半导体可靠性的提高,目前大多半导体器件能承受长期的THB 试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型:即PCT 和USPCT(HAST) 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。
GBPI高压加速老化箱(饱和)技术参数
试样限制 | 本试验设备禁止:易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存腐蚀性物质试样的试验或储存生物试样的试验或储存、强电磁发射源试样的试验或储存 |
规格尺寸&性能 | |
内箱尺寸 | Φ400*D550mm(圆桶型Φ代表直径、D代表深度) |
外箱尺寸 | W850*H1620*D1130mm以物实为准 |
温度范围 | +105℃~143℃ |
湿度范围 | 饱和型99.99R.H |
压力范围 | 0~3.0kg/cm2(相对压力) |
升温时间 | RT(常温) →143℃ 湿度99.99R.H约45min |
温度波动度 | ±0.5℃ |
温度均匀度 | ±2℃ |
满足试验标准 | IEC60068-2-66 1994 电工电子产品环境试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热等标准…… |
结构特征 |
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